文献
J-GLOBAL ID:201702237615898767
整理番号:17A1250942
深いアーキテクチャを用いた教師なし逐次異常値検出【Powered by NICT】
Unsupervised Sequential Outlier Detection With Deep Architectures
著者 (7件):
Lu Weining
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, China)
,
Cheng Yu
(IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
,
Xiao Cao
(IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
,
Chang Shiyu
(IBM T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
,
Huang Shuai
(Department of Industrial and Systems Engineering, University of Washington, Seattle, WA, USA)
,
Liang Bin
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, China)
,
Huang Thomas
(Beckman Institute, University of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Image Processing
(IEEE Transactions on Image Processing)
巻:
26
号:
9
ページ:
4321-4330
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0364A
ISSN:
1057-7149
CODEN:
IIPRE4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)