文献
J-GLOBAL ID:201702237960236935
整理番号:17A1781521
0.18μm高電圧CMOS技術における光センサプロセス変動性【Powered by NICT】
Optical sensor process variability in a 0.18 μm high voltage CMOS technology
著者 (3件):
Roger Frederic
(ams AG, Tobelbaderstrasse 30, 8141 Premstaetten, Austria)
,
Singulani Anderson
(ams AG, Tobelbaderstrasse 30, 8141 Premstaetten, Austria)
,
Park Jong Mun
(ams AG, Tobelbaderstrasse 30, 8141 Premstaetten, Austria)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PATMOS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)