文献
J-GLOBAL ID:201702238115776932
整理番号:17A1728480
点の必要性診断のための低コストのポテンシオスタット【Powered by NICT】
A low-cost potentiostat for point-of-need diagnostics
著者 (4件):
Bezuidenhout P.
(Materials Science and Manufacturing, Council for Scientific and Industrial Research (CSIR), Pretoria, South Africa)
,
Smith S.
(Materials Science and Manufacturing, Council for Scientific and Industrial Research (CSIR), Pretoria, South Africa)
,
Land K.
(Materials Science and Manufacturing, Council for Scientific and Industrial Research (CSIR), Pretoria, South Africa)
,
Joubert T.-H.
(Carl and Emily Fuchs Institute for Microelectronics (CEFIM), University of Pretoria, Pretoria, South Africa)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
AFRICON
ページ:
83-87
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)