文献
J-GLOBAL ID:201702238362712300
整理番号:17A0430540
パワースイッチング用GaN-on-Si MIS-HEMTの試験と信頼性評価
Evaluation and Reliability Assessment of GaN-on-Si MIS-HEMT for Power Switching Applications
著者 (6件):
CHOU Po-Chien
(National Chiao-Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
CHEN Szu-Hao
(National Chiao-Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
HSIEH Ting-En
(National Chiao-Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
CHENG Stone
(National Chiao-Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
DEL ALAMO Jesus A.
(Massachusetts Inst. of Technol., MA, USA)
,
CHANG Edward Yi
(National Chiao-Tung Univ., Hsinchu, TWN)
資料名:
Energies (Web)
(Energies (Web))
巻:
10
号:
2
ページ:
WEB ONLY
発行年:
2017年02月
JST資料番号:
U7016A
ISSN:
1996-1073
CODEN:
ENERGA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)