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文献
J-GLOBAL ID:201702238450014371   整理番号:17A0936987

多結晶光起電素子におけるバンドギャップと欠陥のナノスケールイメージングと分光法【Powered by NICT】

Nanoscale imaging and spectroscopy of band gap and defects in polycrystalline photovoltaic devices
著者 (8件):
Yoon Yohan
(Center for Nanoscale Science and Technology, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA. yohan.yoon@nist.gov yyoon8539@gmail.com)
Chae Jungseok
Katzenmeyer Aaron M.
Yoon Heayoung P.
Schumacher Joshua
An Sangmin
Centrone Andrea
Zhitenev Nikolai

資料名:
Nanoscale  (Nanoscale)

巻:号: 23  ページ: 7771-7780  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2323A  ISSN: 2040-3364  CODEN: NANOHL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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