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文献
J-GLOBAL ID：201702238471699843
整理番号：17A0045955
ナノSIMSによるシリケートガラス,ジルコンおよびアパタイトの希土類元素のマイクロスケール(~10μm)分析
Micro-scale (~10μm) analyses of rare earth elements in silicate glass, zircon and apatite with NanoSIMS
Zhang Jianchao
(Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
,
Lin Yangting
(Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
,
Yang Wei
(Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
,
Hao Jialong
(Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
,
Hu Sen
(Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
資料名：
International Journal of Mass Spectrometry
(International Journal of Mass Spectrometry)
巻： 406 ページ： 48-54 発行年： 2016年08月01日
JST資料番号： D0625A ISSN： 1387-3806 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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