文献
J-GLOBAL ID:201702238849350486
整理番号:17A0145866
故障の物理に基づく電子製品のための可試験性検証試験計画の補正法【Powered by NICT】
Correction method of testability verification test plan for electronic product based on physics of failure
著者 (4件):
Chen Chen
(Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China)
,
Zeng Zhao-Yang
(Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China)
,
Jiang Jue-yi
(Quality Engineering Technology Center, China Aero-polytechnology Establishment, CAPE Beijing, China)
,
Ma Xiao-Long
(Sub Unit 81, PLA Unit 77251, Kaiyuan, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
PHM (Chengdu)
ページ:
1-6
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)