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文献
J-GLOBAL ID:201702238879097865   整理番号:17A0665100

ナノ粒子に基づく印刷法によって作製したAg相互接続の電流に誘起された形態学的進化と信頼性【Powered by NICT】

Current-induced morphological evolution and reliability of Ag interconnects fabricated by a printing method based on nanoparticles
著者 (7件):
Jang Kyung-Tae
(Department of Materials Science & Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. ycjoo@snu.ac.kr)
Hwang Jae-Sun
Park Yong-Jin
Lee Jae-Chan
Kim Na-Rae
Yu Ji-Woo
Joo Young-Chang

資料名:
RSC Advances (Web)  (RSC Advances (Web))

巻:号: 16  ページ: 9719-9723  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7055A  ISSN: 2046-2069  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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