文献
J-GLOBAL ID:201702238879097865
整理番号:17A0665100
ナノ粒子に基づく印刷法によって作製したAg相互接続の電流に誘起された形態学的進化と信頼性【Powered by NICT】
Current-induced morphological evolution and reliability of Ag interconnects fabricated by a printing method based on nanoparticles
著者 (7件):
Jang Kyung-Tae
(Department of Materials Science & Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. ycjoo@snu.ac.kr)
,
Hwang Jae-Sun
,
Park Yong-Jin
,
Lee Jae-Chan
,
Kim Na-Rae
,
Yu Ji-Woo
,
Joo Young-Chang
資料名:
RSC Advances (Web)
(RSC Advances (Web))
巻:
7
号:
16
ページ:
9719-9723
発行年:
2017年
JST資料番号:
U7055A
ISSN:
2046-2069
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)