文献
J-GLOBAL ID:201702238948669464
整理番号:17A0242493
絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)のための実時間接合温度推定のためのオンライン電気-熱モデル【Powered by NICT】
Online electro-thermal model for real time junction temperature estimation for insulated gate bipolar transistor (IGBT)
著者 (6件):
Sathik Mohamed Halick Mohamed
(Rolls-Royce @ NTU Corporate lab, Nanyang Technological University, Singapore)
,
Jet Tseng King
(Rolls-Royce @ NTU Corporate lab, Nanyang Technological University, Singapore)
,
Kandasamy Karthik
(Rolls-Royce @ NTU Corporate lab, Nanyang Technological University, Singapore)
,
Prasanth Sundararajan
(Rolls-Royce @ NTU Corporate lab, Nanyang Technological University, Singapore)
,
Simanjorang Rejeki
(Gajanayake Chandana, Advanced Technology Centre, Rolls-Royce Singapore Pte. Ltd, Singapore)
,
Gupta Amit Kumar
(Gajanayake Chandana, Advanced Technology Centre, Rolls-Royce Singapore Pte. Ltd, Singapore)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
SPEC
ページ:
1-6
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)