文献
J-GLOBAL ID:201702239557173710
整理番号:17A1637420
混合信号集積回路の複雑な機能障害を解析するための動的電流モニタリングとプローブレーザシミュレーション戦略【Powered by NICT】
Dynamic current monitoring and probe laser simulation strategy to analyse complicated functional failure on mixed signal integrated circuit
著者 (4件):
Wen Gaojie
(Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China)
,
Li Xiaocui
(Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China)
,
Tian Li
(Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China)
,
Ren Jun
(Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IPFA
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)