文献
J-GLOBAL ID:201702239926672517
整理番号:17A0416759
ヌル大会論理のためのセルフタイムド自動テストパターン生成【Powered by NICT】
Self-timed automatic test pattern generation for null convention logic
著者 (4件):
Nemati Nastaran
(University of New South Wales, Australia)
,
Reed Mark C.
(University of New South Wales, Australia)
,
Parameswaran Sri
(University of New South Wales, Australia)
,
Fant Karl
(Theseus Logic, California, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
MWSCAS
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)