文献
J-GLOBAL ID:201702240104616194
整理番号:17A0776929
有機発光ダイオードの劣化に及ぼす電荷移動度と界面電荷蓄積の影響
Influence of the Carrier Mobility and Charge Accumulation in Interfacial Layers on Deterioration in Organic Light-emitting Diodes
著者 (4件):
中村弘史
(ソニー(株)R&Dプラットフォーム デバイス&マテリアル研究開発本部)
,
中村弘史
(九州大学最先端有機光エレクトロニクス研究センター(OPERA) 九州大学大学院工学研究院応用化学部門)
,
栗林美樹
(ソニー(株)R&Dプラットフォーム デバイス&マテリアル研究開発本部)
,
安達千波矢
(九州大学最先端有機光エレクトロニクス研究センター(OPERA) 九州大学大学院工学研究院応用化学部門)
資料名:
電気学会論文誌 A
(IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
巻:
137
号:
5
ページ:
291-297(J-STAGE)
発行年:
2017年
JST資料番号:
S0808A
ISSN:
0385-4205
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)