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文献
J-GLOBAL ID：201702240756342416
整理番号：17A0077743
めっき層の均一性と膜/基質結合強度に及ぼす正のオームの影響を研究した。【JST・京大機械翻訳】
Effects of Volt-Ampere Characteristics in Positive-Ohm and Anti-Ohm Sections on Coating Uniformity and Film-Substrate Adhesion Strength
Feng Lin
(Xi’an University of Technology)
,
Jiang Bailing
(Xi’an University of Technology)
,
Yang Chao
(Xi’an University of Technology)
,
Hao Juan
(Xi’an University of Technology)
,
Zhang Tonghui
(Xi’an University of Technology)
資料名：
Xiyou Jinshu Cailiao yu Gongcheng
(Xiyou Jinshu Cailiao yu Gongcheng)
巻： 45 号： 9 ページ： 2458-2461 発行年： 2016年
JST資料番号： W0563A ISSN： 1002-185X CODEN： XJCGEA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 中国 (CHN) 言語： 中国語 (ZH)
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