文献
J-GLOBAL ID:201702240824577552
整理番号:17A1256990
7nmノードでのグラフェンを用いた銅相互接続の置換【Powered by NICT】
Replacing copper interconnects with graphene at a 7-nm node
著者 (6件):
Wang Ning C.
(Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA)
,
Sinha Saurabh
(ARM Inc., Austin, TX 78735, USA)
,
Cline Brian
(ARM Inc., Austin, TX 78735, USA)
,
English Chris D.
(Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA)
,
Yeric Greg
(ARM Inc., Austin, TX 78735, USA)
,
Pop Eric
(Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IITC
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)