文献
J-GLOBAL ID:201702240830814597
整理番号:17A1635781
電力変換器最適化のための新しい半導体スイッチ試験プラットフォーム【Powered by NICT】
A novel semiconductor switch test platform for power converter optimization
著者 (3件):
Guo Zhicheng
(Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China)
,
Cao Guoen
(Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China)
,
Wang Yibo
(Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICEMS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)