前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201702240979905128
整理番号：17A0362500
ハイブリッドおよび電気自動車のための直接液体冷却パワー半導体モジュールの信頼性設計【Powered by NICT】
Reliability design of direct liquid cooled power semiconductor module for hybrid and electric vehicles
Dai Xiaoping
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Dai Xiaoping
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Wang Yangang
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Wang Yangang
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Wu Yibo
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Wu Yibo
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Luo Haihui
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Luo Haihui
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Liu Guoyou
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Liu Guoyou
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Li Daohui
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Li Daohui
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
,
Jones Steve
(Power Semiconductor R&D Centre, Dynex Semiconductor Ltd., CRRC Times Electric Co. Ltd., Lincoln LN6 3LF, UK)
,
Jones Steve
(State Key Laboratory of Advanced Power Semiconductor Devices, CRRC Times Electric Co. Ltd., Times Road 169, Shifeng District, Zhuzhou, Hunan, PR China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 64 ページ： 474-478 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。