文献
J-GLOBAL ID:201702241306495450
整理番号:17A1544999
拡張Hakki-Paoli法による実用的な光学利得【Powered by NICT】
Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
著者 (7件):
Vanzi M.
(University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy)
,
Marcello G.
(University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy)
,
Mura G.
(University of Cagliari DIEE Cagliari, Italy)
,
Le Gales G.
(Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France)
,
Joly S.
(Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France)
,
Deshayes Y.
(Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France)
,
Bechou L.
(Laboratoire IMS, Universite de Bordeaux, France)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
579-583
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)