文献
J-GLOBAL ID:201702241499797538
整理番号:17A0362410
ナノメータMOSFETの小信号モデリングのための改良非埋め込み手法【Powered by NICT】
An improved de-embedding procedure for nanometer MOSFET small signal modeling
著者 (4件):
Zhou Ying
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)
,
Yu Panpan
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)
,
Yan Na
(School of Microelectronics, Fudan University, Shanghai 200433, PR China)
,
Gao Jianjun
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)
資料名:
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻:
57
ページ:
60-65
発行年:
2016年
JST資料番号:
A0186A
ISSN:
0026-2692
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)