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文献
J-GLOBAL ID:201702241499797538   整理番号:17A0362410

ナノメータMOSFETの小信号モデリングのための改良非埋め込み手法【Powered by NICT】

An improved de-embedding procedure for nanometer MOSFET small signal modeling
著者 (4件):
Zhou Ying
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)
Yu Panpan
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)
Yan Na
(School of Microelectronics, Fudan University, Shanghai 200433, PR China)
Gao Jianjun
(School of Information Science and Technology, East China Normal University, Shanghai 200062, PR China)

資料名:
Microelectronics Journal  (Microelectronics Journal)

巻: 57  ページ: 60-65  発行年: 2016年 
JST資料番号: A0186A  ISSN: 0026-2692  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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