文献
J-GLOBAL ID:201702241605666682
整理番号:17A0965979
STTRAMの保持試験のための新しい磁気バーンイン【Powered by NICT】
Novel magnetic burn-in for retention testing of STTRAM
著者 (3件):
Khan Mohammad Nasim Imtiaz
(School of Electrical Engineering and Computer Science, Pennsylvania State University, University Park, PA-16801, USA)
,
Iyengar Anirudh S
(School of Electrical Engineering and Computer Science, Pennsylvania State University, University Park, PA-16801, USA)
,
Ghosh Swaroop
(School of Electrical Engineering and Computer Science, Pennsylvania State University, University Park, PA-16801, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DATE
ページ:
666-669
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)