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文献
J-GLOBAL ID：201702241622986018
整理番号：17A0055482
スケーリングとトラップはGaNH EMTにおけるカットオフ周波数の分解を誘導する【Powered by NICT】
Scaling and traps induced degradation of cutoff frequency in GaN HEMT
Ubochi B. C.
(Electronic Systems Design Centre (ESDC), College of Engineering, Swansea University Bay Campus, Fabian Way, Swansea SA1 8EN, Wales, United Kingdom)
,
Faramehr S.
(Electronic Systems Design Centre (ESDC), College of Engineering, Swansea University Bay Campus, Fabian Way, Swansea SA1 8EN, Wales, United Kingdom)
,
Ahmeda K.
(Electronic Systems Design Centre (ESDC), College of Engineering, Swansea University Bay Campus, Fabian Way, Swansea SA1 8EN, Wales, United Kingdom)
,
Igic P.
(Electronic Systems Design Centre (ESDC), College of Engineering, Swansea University Bay Campus, Fabian Way, Swansea SA1 8EN, Wales, United Kingdom)
,
Kalna K.
(Electronic Systems Design Centre (ESDC), College of Engineering, Swansea University Bay Campus, Fabian Way, Swansea SA1 8EN, Wales, United Kingdom)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： ASDAM ページ： 181-184 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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