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文献
J-GLOBAL ID：201702242011627481
整理番号：17A1619390
キャプチャセーフテストベクトル操作に基づく低キャプチャパワーテスト生成法
A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation
HOSOKAWA Toshinori
(College of Industrial Technology, Nihon University)
,
HIRAI Atsushi
(Graduate School of Industrial Technology, Nihon University)
,
YAMAUCHI Yukari
(College of Industrial Technology, Nihon University)
,
ARAI Masayuki
(College of Industrial Technology, Nihon University)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Web)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Web))
巻： E100.D 号： 9 ページ： 2118-2125(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： U0469A ISSN： 1745-1361 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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