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文献
J-GLOBAL ID：201702242264591658
整理番号：17A1266927
フォトニックSiGe BiCMOS技術における>30GHzと<30fsのジッタの帯域幅をもつモノリシック集積化光クロック10GS/s試料採取器【Powered by NICT】
A monolithically integrated, optically clocked 10 GS/s sampler with a bandwidth of >30 GHz and a jitter of <30 fs in photonic SiGe BiCMOS technology
Krueger B.
(Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany)
,
Makon R. E.
(Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany)
,
Landolt O.
(Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany)
,
Hidri O.
(Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany)
,
Schweiger T.
(Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany)
,
Krune E.
(Technische Universitaet Berlin, Berlin, Germany)
,
Knoll D.
(Innovations for High-Performance Microelectronics (IHP), Frankfurt/Oder, Germany)
,
Lischke S.
(Innovations for High-Performance Microelectronics (IHP), Frankfurt/Oder, Germany)
,
Schulze J.
(University of Stuttgart, Institute for Semiconductor Engineering, Stuttgart, Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： CICC ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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