文献
J-GLOBAL ID:201702242427282316
整理番号:17A0943177
古典的6T対標準セルベース実現を考慮したしきい値動作のためのReアドレッシングSRAM設計と測定【Powered by NICT】
Re-addressing SRAM design and measurement for sub-threshold operation in view of classic 6T vs. standard cell based implementations
著者 (5件):
Xin Fan
(Holst-Center / IMEC-nl, Eindhoven, The Netherlands)
,
Stuijt Jan
(Holst-Center / IMEC-nl, Eindhoven, The Netherlands)
,
Rui Wang
(Holst-Center / IMEC-nl, Eindhoven, The Netherlands)
,
Bo Liu
(Holst-Center / IMEC-nl, Eindhoven, The Netherlands)
,
Gemmeke Tobias
(Holst-Center / IMEC-nl, Eindhoven, The Netherlands)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ISQED
ページ:
65-70
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)