文献
J-GLOBAL ID:201702242499596825
整理番号:17A0275684
電力トランジスタのオン状態電圧の実時間測定のための電圧クランプ回路【Powered by NICT】
A voltage clamp circuit for the real-time measurement of the on-state voltage of power transistors
著者 (3件):
Ren Lei
(College of Automation Engineering, Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing, China)
,
Shen Qian
(College of Automation Engineering, Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing, China)
,
Gong Chunying
(College of Automation Engineering, Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ECCE
ページ:
1-7
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)