文献
J-GLOBAL ID:201702242959321339
整理番号:17A0206821
ランダム故障しきい値をもつWiener劣化プロセスに基づいた残りの有効寿命の推定【Powered by NICT】
Remaining useful life estimation based on Wiener degradation processes with random failure threshold
著者 (6件):
Tang Shengjin
(High-Tech Institute of Xi’an)
,
Yu Chuanqiang
(High-Tech Institute of Xi’an)
,
Feng Yongbao
(High-Tech Institute of Xi’an)
,
Xie Jian
(High-Tech Institute of Xi’an)
,
Gao Qinhe
(High-Tech Institute of Xi’an)
,
Si Xiaosheng
(High-Tech Institute of Xi’an)
資料名:
Journal of Central South University
(Journal of Central South University)
巻:
23
号:
9
ページ:
2230-2241
発行年:
2016年
JST資料番号:
W1117A
ISSN:
2095-2899
CODEN:
JCSUBS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)