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文献
J-GLOBAL ID:201702243203004673   整理番号:17A0381539

シリコン貫通電極ガラスを用いた個々にアドレス可能なマイクロプローブ電極アレイの製作と測定【Powered by NICT】

Fabrication and measurements of an individually addressable micro-probe electrode array using silicon through-glass via
著者 (4件):
Shin Young-min
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea)
Kim Yong-Kweon
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea)
Lee Seung-Ki
(Department of Electronics and Electrical Engineering, Dankook University, Yongin 448-701, Korea)
Park Jae-Hyoung
(Department of Electronics and Electrical Engineering, Dankook University, Yongin 448-701, Korea)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: MEMS  ページ: 648-651  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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