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文献
J-GLOBAL ID：201702243258195212
整理番号：17A1394698
xDAWNと雑音除去自動符号器を用いた単一試行事象関連電位の分類【Powered by NICT】
Classifying single-trial event-related potentials using xDAWN and denoising auto-encoder
Cao Shuai
(School of Automation Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510640, P. R. China)
,
Wu Wei
(School of Automation Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510640, P. R. China)
,
Qi FeiFei
(School of Automation Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510640, P. R. China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： CCC ページ： 5614-5617 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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