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文献
J-GLOBAL ID：201702243323276724
整理番号：17A0659256
植物試料からの樹脂切片の後方散乱電子SEMイメージング:組織学的に細胞内構造とCLEMの観察【Powered by NICT】
Backscattered electron SEM imaging of resin sections from plant specimens: observation of histological to subcellular structure and CLEM
RIZZO N.W.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
DUNCAN K.E.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
BOURETT T.M.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
HOWARD R.J.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 263 号： 2 ページ： 142-147 発行年： 2016年
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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