文献
J-GLOBAL ID:201702243438780944
整理番号:17A0617156
汎用性高度化2ω法による熱電薄膜の熱伝導率測定
Thermal Conductivity Measurement of Thermoelectric Thin Films by a Versatility-Enhanced 2ω Method
著者 (5件):
OKUHATA Ryo
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
WATANABE Kentaro
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
IKEUCHI Satoaki
(ADVANCE RIKO Inc., Yokohama, JPN)
,
ISHIDA Akihiro
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
NAKAMURA Yoshiaki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
46
号:
5
ページ:
3089-3096
発行年:
2017年05月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)