文献
J-GLOBAL ID:201702243618128791
整理番号:17A0795184
秋貯蔵電荷逆回復を用いたオンライン高出力p-i-nダイオード接合温度抽出【Powered by NICT】
Online High-Power p-i-n Diode Junction Temperature Extraction With Reverse Recovery Fall Storage Charge
著者 (4件):
Luo Haoze
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
Chen Yuxiang
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
Li Wuhua
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
,
He Xiangning
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
資料名:
IEEE Transactions on Power Electronics
(IEEE Transactions on Power Electronics)
巻:
32
号:
4
ページ:
2558-2567
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0211B
ISSN:
0885-8993
CODEN:
ITPEE8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)