文献
J-GLOBAL ID:201702243815586520
整理番号:17A0321454
ステップストレス加速劣化試験における白色光LEDのルーメン分解モデリング【Powered by NICT】
Lumen degradation modeling of white-light LEDs in step stress accelerated degradation test
著者 (7件):
Huang Jianlin
(Beijing Research Center, Delft University of Technology, Beijing 100083, China)
,
Golubovic Dusan S
(Lumileds Commercial (Shanghai) Co., Ltd, Shanghai 200233, China)
,
Koh Sau
(Beijing Research Center, Delft University of Technology, Beijing, 100083, China)
,
Yang Daoguo
(Guilin University of Electronic Technology, Guangxi 541004, China)
,
Li Xiupeng
(Philips Lighting, Shanghai 200233, China)
,
Fan Xuejun
(State Key Laboratory of Solid State Lighting, Beijing 100083, PR China)
,
Zhang G.Q.
(Delft University of Technology, CT 2628, Delft, the Netherlands)
資料名:
Reliability Engineering & System Safety
(Reliability Engineering & System Safety)
巻:
154
ページ:
152-159
発行年:
2016年
JST資料番号:
D0980B
ISSN:
0951-8320
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)