文献
J-GLOBAL ID:201702243996920022
整理番号:17A1544899
電力半導体素子の信頼性評価プラットフォーム-三相系統連系インバータ応用に関する事例研究【Powered by NICT】
Reliability assessment platform for the power semiconductor devices - Study case on 3-phase grid-connected inverter application
著者 (3件):
Vernica Ionut
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Ma Ke
(School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
,
Blaabjerg Frede
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
31-37
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)