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文献
J-GLOBAL ID:201702244281509874   整理番号:17A1727543

中性子回折によるSiCバルク結晶中の3次元残留応力分布の特性化【Powered by NICT】

Characterization of the three-dimensional residual stress distribution in SiC bulk crystals by neutron diffraction
著者 (10件):
Xie Xuejian
(State Key Laboratory of Crystal Materials, Shandong University, Jinan, 250100, China. xbhu@sdu.edu.cn xxu@sdu.edu.cn)
Hu Xiaobo
Chen Xiufang
Liu Fafu
Yang Xianglong
Xu Xiangang
Wang Hong
Li Jian
Yu Peng
Wang Ruiqi

資料名:
CrystEngComm  (CrystEngComm)

巻: 19  号: 43  ページ: 6527-6532  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2462A  ISSN: 1466-8033  CODEN: CRECF4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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