文献
J-GLOBAL ID:201702244281509874
整理番号:17A1727543
中性子回折によるSiCバルク結晶中の3次元残留応力分布の特性化【Powered by NICT】
Characterization of the three-dimensional residual stress distribution in SiC bulk crystals by neutron diffraction
著者 (10件):
Xie Xuejian
(State Key Laboratory of Crystal Materials, Shandong University, Jinan, 250100, China. xbhu@sdu.edu.cn xxu@sdu.edu.cn)
,
Hu Xiaobo
,
Chen Xiufang
,
Liu Fafu
,
Yang Xianglong
,
Xu Xiangang
,
Wang Hong
,
Li Jian
,
Yu Peng
,
Wang Ruiqi
資料名:
CrystEngComm
(CrystEngComm)
巻:
19
号:
43
ページ:
6527-6532
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2462A
ISSN:
1466-8033
CODEN:
CRECF4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)