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文献
J-GLOBAL ID：201702244393969139
整理番号：17A0606060
40GHzまでのフレキシブルマイクロストリップ線路型プローブを用いた薄膜の透磁率測定
Permeability Measurements of Thin Film Using a Flexible Microstrip Line-Type Probe Up To 40 GHz
Yabukami S.
(Tohoku Gakuin University)
,
Kusunoki K.
(Sendai National College of Technology)
,
Uetake H.
(Tohoku Gakuin University)
,
Yamada H.
(Sendai National College of Technology)
,
Ozawa T.
(Tohoku Gakuin University)
,
Utsumi R.
(Toei Scientific Industrial Company Ltd.)
,
Moriizumi T.
(Candox Systems Inc.)
,
Shimada Y.
(Graduate School of Engineering, Tohoku University)
資料名：
Journal of the Magnetics Society of Japan (Web)
(Journal of the Magnetics Society of Japan (Web))
巻： 41 号： 2 ページ： 25-28(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： U0776A ISSN： 1882-2932 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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