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文献
J-GLOBAL ID：201702244641710295
整理番号：17A0385785
その場環境制御型透過電子顕微鏡での化学抵抗ナノセンサーによる電子ビーム効果の探索
Probing electron beam effects with chemoresistive nanosensors during in situ environmental transmission electron microscopy
Steinhauer S.
(Nanoparticles by Design Unit, Okinawa Institute of Science and Technology (OIST) Graduate University, 1919-1 Tancha, Onna-Son, Okinawa 904-0495, Japan)
,
Wang Z.
(State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Zhou Z.
(State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Krainer J.
(Materials Center Leoben Forschung GmbH, 8700 Leoben, Austria)
,
Kock A.
(Materials Center Leoben Forschung GmbH, 8700 Leoben, Austria)
,
Nordlund K.
(Department of Physics and Helsinki Institute of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 43, FI-00014 Helsinki, Finland)
,
Djurabekova F.
(Department of Physics and Helsinki Institute of Physics, University of Helsinki, P.O. Box 43, FI-00014 Helsinki, Finland)
,
Grammatikopoulos P.
(Nanoparticles by Design Unit, Okinawa Institute of Science and Technology (OIST) Graduate University, 1919-1 Tancha, Onna-Son, Okinawa 904-0495, Japan)
,
Sowwan M.
(Nanoparticles by Design Unit, Okinawa Institute of Science and Technology (OIST) Graduate University, 1919-1 Tancha, Onna-Son, Okinawa 904-0495, Japan)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 110 号： 9 ページ： 094103-094103-4 発行年： 2017年02月27日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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