文献
J-GLOBAL ID:201702244767625113
整理番号:17A0316963
ピエゾ抵抗応力センサを用いたEMC緩和挙動のその場研究【Powered by NICT】
In-situ investigation of EMC relaxation behavior using piezoresistive stress sensor
著者 (5件):
Palczynska Alicja
(Robert Bosch GmbH, Reliability Modeling and System Optimization (AE/EDT3) Reutlingen, 72703, Germany)
,
Gromala Przemyslaw Jakub
(Robert Bosch GmbH, Reliability Modeling and System Optimization (AE/EDT3) Reutlingen, 72703, Germany)
,
Mayer Dirk
(Fraunhofer-Institut fuer Betriebsfestigkeit und Systemzuverlaessigkeit LBF, Darmstadt 64289, Germany)
,
Han Bongtae
(Mechanical Engineering Department, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA)
,
Melz Tobias
(Fraunhofer-Institut fuer Betriebsfestigkeit und Systemzuverlaessigkeit LBF, Darmstadt 64289, Germany)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
62
ページ:
58-62
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)