文献
J-GLOBAL ID:201702244854596383
整理番号:17A0133186
光音響・発光同時計測及び時間分解発光計測による窒化物半導体の内部量子効率と輻射・非輻射再結合寿命の測定
Determination of internal quantum efficiency and recombination lifetime by simultaneous photo-acoustic and photoluminescence measurements in GaN
著者 (3件):
河上航平
(金沢工大 工)
,
中納隆
(金沢工大 工)
,
山口敦史
(金沢工大 工)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
116
号:
372(LQE2016 96-104)
ページ:
15-20
発行年:
2016年12月09日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)