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文献
J-GLOBAL ID:201702245027361708   整理番号:17A0825952

ノーマリオフC 部分的C Oチャネルを達成する2kV絶縁破壊電圧を有するHダイヤモンドMOSFET【Powered by NICT】

Normally-Off C-H Diamond MOSFETs With Partial C-O Channel Achieving 2-kV Breakdown Voltage
著者 (12件):
Kitabayashi Yuya
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Kudo Takuya
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Tsuboi Hidetoshi
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Yamada Tetsuya
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Xu Dechen
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Shibata Masanobu
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Matsumura Daisuke
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Hayashi Yuya
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Syamsul Mohd
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Inaba Masafumi
(Faculty of Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Hiraiwa Atsushi
(Institute of Nano-Science and Nano-Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)
Kawarada Hiroshi
(Faculty of Science and Engineering and Institute of Nano-Science and Nano-Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo, Japan)

資料名:
IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)

巻: 38  号:ページ: 363-366  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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