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文献
J-GLOBAL ID：201702245030129016
整理番号：17A0013523
(111)配向ペリクレース(MgO)基板とAl2O3薄膜の間のスピネル(MgAl2O4)成長のその場監視と実験室TEM解析
In situ monitoring and ex situ TEM analyses of spinel (MgAl 2 O 4 ) growth between (111)-oriented periclase (MgO) substrates and Al 2 O 3 thin films
Gotze L. C.
(Institute of Geological Sciences, Freie Universitaet Berlin, Berlin, Germany)
,
Milke R.
(Institute of Geological Sciences, Freie Universitaet Berlin, Berlin, Germany)
,
Zizak I.
(Helmholtz-Zentrum Berlin for Materials and Energy, Berlin, Germany)
,
Wirth R.
(GFZ German Research Centre for Geosciences, Potsdam, Germany)
資料名：
Journal of Materials Science
(Journal of Materials Science)
巻： 51 号： 19 ページ： 8824-8844 発行年： 2016年10月
JST資料番号： B0722A ISSN： 0022-2461 CODEN： JMTSAS 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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