文献
J-GLOBAL ID:201702245207160165
整理番号:17A1036288
28nmH KMG技術を用いた適応加速劣化【Powered by NICT】
Adaptive accelerated aging with 28nm HKMG technology
著者 (7件):
Patra Devyani
(School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ)
,
Reza Ahmed Kamal
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
,
Hassan Mohammed Khaled
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
,
Katoozi Mehdi
(The Boeing Company, Seattle, WA)
,
Cannon Ethan H.
(The Boeing Company, Seattle, WA)
,
Roy Kaushik
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
,
Cao Yu
(School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IRPS
ページ:
CR-2.1-CR-2.4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)