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J-GLOBAL ID:201702245207160165   整理番号:17A1036288

28nmH KMG技術を用いた適応加速劣化【Powered by NICT】

Adaptive accelerated aging with 28nm HKMG technology
著者 (7件):
Patra Devyani
(School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ)
Reza Ahmed Kamal
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
Hassan Mohammed Khaled
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
Katoozi Mehdi
(The Boeing Company, Seattle, WA)
Cannon Ethan H.
(The Boeing Company, Seattle, WA)
Roy Kaushik
(School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN)
Cao Yu
(School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: IRPS  ページ: CR-2.1-CR-2.4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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