文献
J-GLOBAL ID:201702245279171474
整理番号:17A0362419
SRAMベースのFPGAにおけるT ID試験の実行時内蔵アプローチ【Powered by NICT】
A run-time built-in approach of TID test in SRAM based FPGAs
著者 (4件):
Ma Ning
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Wang Shaojun
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Liu Datong
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
,
Peng Yu
(Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
42-47
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)