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文献
J-GLOBAL ID：201702245411022150
整理番号：17A0842569
ZnO基板上のCu-Zn-Sn-Se膜における相形成プロセスの深さ分解及び温度依存解析
Depth-resolved and temperature dependent analysis of phase formation processes in Cu-Zn-Sn-Se films on ZnO substrates
STROTH Christiane
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
SAYED Mohamed H.
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
SCHUSTER Matthias
(Univ. Erlangen-Nuernberg, Erlangen, DEU)
,
OHLAND Joerg
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
HAMMER-RIEDEL Ingo
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
HAMMER Maria S.
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
WELLMANN Peter
(Univ. Erlangen-Nuernberg, Erlangen, DEU)
,
PARISI Juergen
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
,
GUETAY Levent
(Univ. Oldenburg, Oldenburg, DEU)
資料名：
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 28 号： 11 ページ： 7730-7738 発行年： 2017年06月
JST資料番号： W0003A ISSN： 0957-4522 CODEN： JMTSAS 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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