前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201702245638890598
整理番号：17A0362488
異なる温度スイング継続時間のもとでの成形インテリジェントパワーIGBTモジュールのパワーサイクル試験と故障解析【Powered by NICT】
Power cycling test and failure analysis of molded Intelligent Power IGBT Module under different temperature swing durations
Choi U.M.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Blaabjerg F.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Jorgensen S.
(Grundfos Holding A/S, Poul Due Jensens Vej 7, Bjerringbro DK-8850, Denmark)
,
Iannuzzo F.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Wang H.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Uhrenfeldt C.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
,
Munk-Nielsen S.
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Aalborg, Denmark)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 64 ページ： 403-408 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。