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文献
J-GLOBAL ID：201702245639282958
整理番号：17A1544916
高出力IGBTインバータ脚と相対的試験プラットフォームの設計における不均一温度の影響評価【Powered by NICT】
Uneven temperature effect evaluation in high-power IGBT inverter legs and relative test platform design
Luo Haoze
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark)
,
Luo Haoze
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China)
,
Li Wuhua
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China)
,
He Xiangning
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, PR China)
,
Iannuzzo Francesco
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark)
,
Blaabjerg Frede
(Department of Energy Technology, Aalborg University, Denmark)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 76-77 ページ： 123-130 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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