文献
J-GLOBAL ID:201702245871914237
整理番号:17A1258632
完全センサ微量解析を用いた故障検出への新しいアプローチ【Powered by NICT】
A novel approach to Fault Detection using full sensor trace analytic
著者 (2件):
Tom Ho
(BISTel, Inc., Santa Clara, California, USA)
,
Wong Justin
(BISTel, Inc., Santa Clara, California, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
MIPRO
ページ:
168-171
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)