文献
J-GLOBAL ID:201702245943420740
整理番号:17A0468082
フラッシュ蒸発法を使ったSn1-xFexO2薄膜の構造的,光学的性質および室温強磁性特性
Structural, optical and room temperature ferromagnetic properties of Sn1-xFexO2 thin films using flash evaporation technique
著者 (6件):
KUPPAN M.
(VIT Univ., Tamilnadu, IND)
,
KALEEMULLA S.
(VIT Univ., Tamilnadu, IND)
,
MADHUSUDHANARAO N.
(VIT Univ., Tamilnadu, IND)
,
KRISHNAMOORTHI C.
(VIT Univ., Tamilnadu, IND)
,
OMKARAM I.
(Kyung Hee Univ., Gyeonggi-do, KOR)
,
SREEKANTHAREDDY D.
(Sungkyunkwan Univ., Suwan, KOR)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
28
号:
3
ページ:
2976-2983
発行年:
2017年02月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)