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文献
J-GLOBAL ID：201702246315247296
整理番号：17A0214278
Cu/Al_2O_3ベースCBRAMデバイスの保持特性に及ぼす繊維形態の影響【Powered by NICT】
Impact of the filament morphology on the retention characteristics of Cu/Al2O3-based CBRAM devices
Ota K.
(Toshiba Corp. assigned at imec)
,
Belmonte A.
(Hmec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Chen Z.
(Hmec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Redolfi A.
(Hmec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Goux L.
(Hmec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
,
Kar G. S.
(Hmec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： IEDM ページ： 21.2.1-21.2.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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