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文献
J-GLOBAL ID：201702246480252147
整理番号：17A1545146
RFマグネトロンスパッタリングによる同時蒸着SmをドープしたZnO薄膜の光学的性質の偏光解析法による研究【Powered by NICT】
Ellipsometric study of optical properties of Sm-doped ZnO thin films Co-deposited by RF-Magnetron sputtering
Alsebaie D.M.
(Department of Physics, Faculty of Science, King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
,
Shirbeeny W.
(Department of Physics, Faculty of Science, King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
,
Shirbeeny W.
(Department of Physics, Faculty of Science, Alexandria University, Egypt)
,
Alshahrie A.
(Department of Physics, Faculty of Science, King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
,
Alshahrie A.
(Center of Nanotechnology, King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
,
Abdel-Wahab M. Sh.
(Center of Nanotechnology, King Abdulaziz University, Jeddah, Saudi Arabia)
資料名：
Optik
(Optik)
巻： 148 ページ： 172-180 発行年： 2017年
JST資料番号： D0251A ISSN： 0030-4026 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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