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文献
J-GLOBAL ID：201702246548293573
整理番号：17A0943198
3状態復号器と3Vレベルエンコーダを用いたマルチサイト試験効率を改善するためのオフチップ試験アーキテクチャ【Powered by NICT】
Off-chip test architecture for improving multi-site testing efficiency using tri-state decoder and 3V-level encoder
Seo Sungyoul
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea)
,
Hyeonchan Lim
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea)
,
Kang Soyeon
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea)
,
Kang Sungho
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, Korea)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ISQED ページ： 191-195 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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