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文献
J-GLOBAL ID：201702246580709250
整理番号：17A0317271
マスクされたAESに対する新しい0値攻撃複合故障感度解析【Powered by NICT】
A new zero value attack combined fault sensitivity analysis on masked AES
Wang Qian
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Wang Qian
(University of Maryland, College Park, MD 20740, United States)
,
Wang An
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Wu Liji
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Zhang Jiliang
(Software College, Northeastern University, Shenyang 110819, China)
資料名：
Microprocessors and Microsystems
(Microprocessors and Microsystems)
巻： 45 号： PB ページ： 355-362 発行年： 2016年
JST資料番号： H0781A ISSN： 0141-9331 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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